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光學(xué)顯微鏡在地質(zhì)分析中的應(yīng)用

點(diǎn)擊次數(shù):517 更新時間:2023-04-21

光學(xué)顯微鏡在地質(zhì)分析已成為常規(guī)研究技術(shù)之一,其優(yōu)勢首先在于光學(xué)檢測的無損性,對樣品的分析提供安全保障;其次是大距離景深,可以更清晰的觀測微區(qū)形貌;第三是微區(qū)形貌的3D建模和測量功能,可對微區(qū)物理結(jié)構(gòu)特征進(jìn)行量化表征。

 

偏光顯微鏡的作用及基礎(chǔ)認(rèn)識

1、單偏光下的晶體特性

 

38.png

 

  • 礦物突起

  • 礦物糙面

  • 礦物形態(tài)

  • 解理

  • 礦物顏色

  • 晶體的多色性與吸收性

 

2、正交偏光下的晶體特性

 

39.png

 

  • 礦物雙晶的觀察

  • 礦片消光類型及消光角的測定

  • 干涉色

  • 礦物延性符號的測定

 

3、錐光鏡下的晶體特性

 

40.png

 

  • 確定一軸晶還是二軸晶

  • 測定光性符號

  • 測量光軸角的大小


部分巖石樣品成像效果

 

image.png

 

 

云母類相關(guān)樣品顯微鏡下成像效果

 

image.png

 

偏光顯微鏡也有許多配置可供選擇,比如:顯微鏡熱臺、陰極發(fā)光儀、分光光度計(jì)等多樣化應(yīng)用配置需求,滿足不同類型研究者的需求



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